[发明专利]薄膜过滤系统对数降低值预测及多孔薄膜完整性试验方法无效
| 申请号： | 98803016.0 | 申请日： | 1998-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN1096286C | 公开（公告）日： | 2002-12-18 |
| 发明（设计）人： | 迈克尔·R·L·塞尔比;汉弗莱·J·J·德拉蒙德;沃伦·T·约翰逊 | 申请（专利权）人： | USF过滤分离集团公司 |
| 主分类号： | B01D65/10 | 分类号： | B01D65/10 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 张祖昌 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 薄膜 过滤 系统 对数 降低 预测 多孔 完整性 试验 方法 | ||
【权利要求书】：
1.薄膜过滤系统对数降低值的预测方法，该方法包括以下步骤：
i)确定通过薄膜的过滤流率Qfilt；
ii)应用完整性试验测量结果确定薄膜旁通流率QBypass；
iii)应用确定的过滤流率与确定的旁通流率的比例，按下式推测对数降低值：
2.多孔薄膜完整性的试验方法，包括以下步骤：
i)湿润薄膜；
ii)对薄膜的一侧施加低于薄膜孔隙的起泡点的气体压力；和
iii)测量越过薄膜的气体流量，所述气体流量包括通过薄膜的扩散流量和通过薄膜中渗漏和缺陷的流量，所述气体流量与薄膜中的任何缺陷有关。
3.如权利要求2的方法，其特征在于，气体流量是通过监视施加于薄膜一侧的气体压力的压力衰减进行测量的。
4.如权利要求2的方法，其特征在于，气体流量是通过以流体体积包围所述薄膜的另一侧，并测量由于所述气体流量造成的所述流体排出量而加以测量的。
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