[发明专利]薄膜过滤系统对数降低值预测及多孔薄膜完整性试验方法

说明书

技术领域

本发明涉及过滤系统中对数降低值的预测方法以及应用这样的一些值控制和监视运行中的过滤系统。

背景技术

过滤系统去除粒子的能力通常按照对数降低值(LRV)进行测量。对于任何给定的粒子，对数降低值定义为： LRV = log 10 ( C inf C eff ) - - - - - - ( 1 ) ]]>

此处C_inf＝流入液体中的粒子浓度，

    C_eff＝流出液体中的粒子浓度。

在计算中使用的粒子可以是任何一种关心的粒子，例如，在消毒系统中它通常是细菌或病毒，但也可以是悬浮的固体。

发明内容

本发明提出了一种预测薄膜过滤系统中对数降低值的方法，该方法包括以下步骤：

i)确定通过薄膜的过滤流率；

ii)应用完整性试验测量结果，确定薄膜旁通流率；

iii)应用确定的过滤流率与确定的旁通流率的比例，按下式推测对数降低值： LRV = log 10 ( Q filt Q Bypass ) - - - - - ( 2 ) ]]>

申请人已发展了若干确定过滤薄膜完整性的试验，这些试验包括扩散空气流量(DAF)和压力衰减试验(PDT)。

根据又一方面，本发明提出了一种试验多孔薄膜完整性的方法，该方法包括的步骤有：

i)湿润薄膜；

ii)对薄膜的一侧施加低于薄膜孔隙的越泡点(bubble point)的气体压力；和

iii)测量越过薄膜的气体流量，所述气体流量包括通过薄膜的扩散流量和通过薄膜中渗漏和缺陷的流量，所述气体流量与薄膜中的任何缺陷有关。

气体流量最好通过监视施加于薄膜一侧的气体压力的压力衰减进行测量。另一种较优形式是，气体流量通过以流体体积包围所述薄膜的另一侧并测量由于所述气体流量造成的所述流体排出量而加以测量。

除非文中明确要求，否则在说明书和权利要求的全文中，词“包括”、“正包括”及类似词都应解释为与排除或穷尽相反的包含意义；也即解释为“包含，但不限于”的意义。

具体实施方式

现将对这些完整性试验的较优实例说明如下，但这只是为了展示。如果完全湿润的薄膜(即全部孔隙都充装着液体)的腔充装着压力低于起泡点的空气，则薄膜的孔隙将保持湿润，除了由于扩散引起的较小流量外，通过孔隙不会有显著的空气流量。如果出现缺陷(如纤维断裂)，则空气将通过缺陷流动，当然假定缺陷的尺寸是这样的，即它所有的起泡点低于试验压力。因此，在此情况下空气的流量与薄膜系统的完整性直接有关。对完整的系统，空气流量很小，直接测量十分困难。为简化试验，并克服这一问题，通过测量液体流量(在DAF试验情况)或通过测量压力衰减(在压力保持/衰减试验情况)间接测量空气流量。