[发明专利]光谱测定法、光学测量法和装置

摘要

在本发明的光学测量装置中，一个分光装置发出一束测量光束并将该光束分离成若干光束，分光装置发出的这束光束包含在其中一被测物吸收所述光的一部分的测量波长区的测量光部分和在其中该被测物几乎将所述光完全吸收率的参比波长区的参比光部分；一个光度测定装置测量当一参比样品被插入光束的光路中时照射在积分球上的光以便将测量值存储在存储器中并且还测量当一个被测物体被插入光束的光路中时照射在积分球上的光；而后，一个数学运算电路计算对被测物体的补偿光部分与存储在存储器中的补偿光部分的光强度比。接下去通过将存储在存储器中的测量值乘以该比值计算出测量过程中的背景强度。

主权项

1.一种光学测量方法，所述方法用由光源发出的光照射一被测物体并测量透过所述被测物体的光或被所述被测物体反射的光的光谱，所述光学测量方法包括如下步骤：配备一个光源，所述光源产生如下这些波长的测量光，这些波长包括在其间所述被测物体几乎将所述测量光完全吸收的一个补偿波长区段上的那些波长；测量由所述光源产生的光的光谱；用由所述光源发出的光照射所述的被测物体，以便测量透过所述被测物体或被所述被测物体反射的光的光谱；计算透过所述被测物体或被所述被测物体反射的光的强度与由所述光源在所述补偿波长区段产生的光的强度的强度比；将由所述光源在每一波长处产生的光的强度乘以所述比，以便得出一种无信息光谱；以及通过从透过所述被测物体的光或被被测物体反射的光的所述被测得的光谱中减去所述无信息光谱得出一个差光谱作为一种经过补偿的样品光谱。