[其他]水平结构晶体管及其制作方法无效

专利信息
申请号: 85108008 申请日: 1985-10-30
公开(公告)号: CN1004594B 公开(公告)日: 1989-06-21
发明(设计)人: 戴维·B·斯伯特;詹姆斯·D·琼拉瑞;爱尔顿·J·赞雷斯基 申请(专利权)人: 得克萨斯仪器公司
主分类号: 分类号:
代理公司: 上海专利事务所 代理人: 冯晓明
地址: 美国得克萨斯州752*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 在被诸如氧化物之类的绝缘体[22]完全包围的一个薄的外延岛[24,70]中制成水平结构晶体管[20,68]。该晶体管[20,68]具有从同一掩模扩散到岛[24,70]中的基极区[34,80]和发射极区[26,84],从而使基极[34,80]的宽度是可控的并且相对于发射极[26,84]来说保持不变。多晶硅基极接触[36,96]位于岛[24,70]的顶部之上并通过氧化层[90]与发射极区[26,84]和集电极区[28,86]相隔离。此水平结构晶体管很容易把互补的双极型晶体管[20,68]和互补的IGFET器件制作在同一衬底上。
搜索关键词: 水平 结构 晶体管 及其 制作方法
【主权项】:
暂无信息
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