[实用新型]一种芯片测试分选装置有效
申请号: | 202320051376.X | 申请日: | 2023-01-09 |
公开(公告)号: | CN219233152U | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
发明(设计)人: | 韦洪贤;陈康筠;吴伟良 | 申请(专利权)人: | 山东芯恒光科技有限公司 |
主分类号: | B07C5/02 | 分类号: | B07C5/02 |
代理公司: | 枣庄鑫宇源专利代理事务所(普通合伙) 37378 | 代理人: | 张世静 |
地址: | 277300 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种芯片测试分选装置,具体涉及测试分选装置技术领域,包括测试分选装置本体,所述测试分选装置本体底部均匀设置有多个支撑杆,多个所述支撑杆横截面形状均设置为倒T形,多个所述支撑杆底部均设置有防滑套,多个所述防滑套均由橡胶材料制成,多个所述防滑套底部共同设置有放置板,所述放置板顶部接触防滑套的一面开设有放置槽,所述放置板顶部设置有限制机构。本实用新型通过设置限制机构,能够有效的避免测试分选装置本体在使用时轻易出现移动的现象,因此避免了由于测试分选装置本体的移动而导致正在分选的芯片位置出现移动,从而时的由于芯片芯片分选失败的现象出现,因此使得测试分选装置本体的分选可靠性得到了提升。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 测试 分选 装置 | ||
【主权项】:
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