[发明专利]空白掩模版的制造方法及系统在审
申请号: | 202310962116.2 | 申请日: | 2023-06-16 |
公开(公告)号: | CN116931361A | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 林岳明 | 申请(专利权)人: | 上海传芯半导体有限公司 |
主分类号: | G03F1/26 | 分类号: | G03F1/26 |
代理公司: | 上海思捷知识产权代理有限公司 31295 | 代理人: | 王宏婧 |
地址: | 200000 上海市浦东新区中国(上海)*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明提供一种空白掩模版的制造方法及系统,经过脉冲激光沉积、性能检测、激光表面处理(激光去膜或者先激光去膜后激光抛光)这些步骤的循环执行,脉冲激光沉积工艺的靶材利用率高,能够保证最终形成的空白掩模版的性能达到目标,从而提高了空白掩模版的制造良率和制造效率。进一步地,通过对待废弃的掩模版进行激光表面处理,从而回收其中的掩模基板,并基于回收的掩模基板来制造空白掩模版,整个过程中均通过激光工艺来实现,不需要使用湿法工艺的介入,解决了现有空白掩模版的制造方法中存在的费用较高、工艺时间较长及湿法工艺带来的环境污染等问题。 | ||
搜索关键词: | 空白 模版 制造 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
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G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备