[发明专利]一种磁片无磁区的检测方法在审

专利信息
申请号: 202310921214.1 申请日: 2023-07-25
公开(公告)号: CN116758055A 公开(公告)日: 2023-09-15
发明(设计)人: 侯文峰;朱钱华;王魏强;林笃盛;王英军;张杭烽 申请(专利权)人: 杭州智感科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/13;G06F17/18
代理公司: 杭州仁杰专利代理事务所(特殊普通合伙) 33297 代理人: 张俊
地址: 311106 浙江省杭州市余杭*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明涉及一种不仅能够对无磁区偏移实现判断,而且能够对无磁区偏移情况实现数据输出,而且误判率低的一种磁片无磁区的检测方法,无磁区检测模块通过图像找到磁片中的每个无磁区的宽度边缘及磁片的左测边缘;之后拟合出磁片左侧边缘的基准线及每个无磁区宽度边缘的两条平行线;之后通过每个无磁区宽度边缘的两条平行线计算出对应无磁区的中心线;之后计算出每条中线到基准线的平均值;之后将每条中线到基准线的平均值与对应的设定值进行比对。优点:本方法通过对无磁区边缘拟合直线并通过对线与线之间距离的计算及比对,这样不仅能够对无磁区是否出现偏移实现判断,而且能够对无磁区偏移情况实现数据输出。
搜索关键词: 一种 磁片 磁区 检测 方法
【主权项】:
暂无信息
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