[发明专利]芯片低功耗验证方法、系统、芯片和电子设备在审
| 申请号： | 202310900456.2 | 申请日： | 2023-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN116930716A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 许玉淇 | 申请（专利权）人： | 厦门紫光展锐科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06F11/263;G01R31/317;G01R31/3181 |
| 代理公司： | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人： | 苏胜 |
| 地址： | 361101 福建省厦*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请提出了一种芯片低功耗验证方法、系统、芯片和电子设备，涉及芯片技术领域。其中，上述芯片低功耗验证方法包括：首先，根据预配置的目标文件，从目标芯片所支持的业务中指定待测业务和低功耗控制，其中，目标文件用于描述目标芯片的架构信息。然后，资源管理模块和功耗管理模块这两个模块共同处理目标文件，并形成各种最小测试向量单元，这些测试向量，根据功耗管理模块控制规则,随机预测进行组合，从而生成各种测试用例，并基于测试用例，控制调用执行测试用例形成待测目标的业务。检测到待测业务的执行结果与预期结果一致，确定待测业务功能正常。通过上述方法，可提高大规模芯片的低功耗功能验证效率，缩短芯片低功耗验证周期。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 功耗 验证 方法 系统 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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