[发明专利]一种基于超表面的光学微波一体化探测系统在审

专利信息
申请号: 202310837174.2 申请日: 2023-07-10
公开(公告)号: CN116559856A 公开(公告)日: 2023-08-08
发明(设计)人: 夏鲁瑞;陈雪旗;胡吉建;唐关翠;李森;卢妍;杨烜闻 申请(专利权)人: 中国人民解放军战略支援部队航天工程大学
主分类号: G01S13/86 分类号: G01S13/86;G01V11/00
代理公司: 长沙市护航专利代理事务所(特殊普通合伙) 43220 代理人: 莫晓齐
地址: 101416*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及成像设备技术领域,具体为一种基于超表面的光学微波一体化探测系统,包括微波阵列天线、光学超透镜组件、微波收发系统和图像接收处理系统;微波阵列天线包括反射阵面和馈源,反射阵面由周期排列的超表面反射单元构成,馈源安装在反射阵面的正上方;光学超透镜组件包括多个超透镜,多个超透镜分别安装在多个通孔内;微波收发系统和图像接收处理系统安装在反射阵面下方,且分别与馈源、光学超透镜组件连接。本发明通过“平板化”阵列的设计,有效减小了系统体积,提升了一体化程度,微波阵列天线设计为反射式阵列,馈源和图像接收处理系统位于反射阵面两侧,不使用分光分频元件,也能有效降低了微波与光学系统之间的干扰。
搜索关键词: 一种 基于 表面 光学 微波 一体化 探测 系统
【主权项】:
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