[发明专利]基于X射线荧光鉴别复杂基体矿物的方法、系统和介质在审
| 申请号： | 202310774594.0 | 申请日： | 2023-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN116593513A | 公开（公告）日： | 2023-08-15 |
| 发明（设计）人： | 刘健斌;周君龙;谭智毅;莫蔓;李涵;肖前;余建龙;蒋中鸣;萧达辉;颜焯文;梁美琼;沈文洁;王海贞;宋武元 | 申请（专利权）人： | 广州海关技术中心 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 深圳市世纪宏博知识产权代理事务所(普通合伙) 44806 | 代理人： | 赖智威 |
| 地址： | 510623 广东省广州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了基于X射线荧光鉴别复杂基体矿物的方法、系统和介质，所述方法包括：获取待检复杂基体矿石样品；对所述待检复杂基体矿石样品进行分析，得到待检复杂基体矿石样品的特征谱线；根据所述待检复杂基体矿石样品的特征谱线进行分析，判断所述待检复杂基体矿石样品的特征谱线中是否存在预设基准样品特征谱线；若存在，则基于所述待检复杂基体矿石样品进行分析，得到抗干扰基准样品；基于所述抗干扰基准样品对复杂基体矿物进行分析，得到所述复杂基体矿物内干扰元素含量信息。本发明基于干扰对调干扰原理，以一组具有典型各种干扰元素的矿物为基准，结合制作成一个圆球状多棱镜型装置，通过模型，排除其他干扰，保证利用X射线荧光技术快速分析报关货物工作流程。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 射线 荧光 鉴别 复杂 基体 矿物 方法 系统 介质 | ||
【主权项】：
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