[发明专利]基于X射线荧光鉴别复杂基体矿物的方法、系统和介质

说明书

本发明公开了基于X射线荧光鉴别复杂基体矿物的方法、系统和介质，所述方法包括：获取待检复杂基体矿石样品；对所述待检复杂基体矿石样品进行分析，得到待检复杂基体矿石样品的特征谱线；根据所述待检复杂基体矿石样品的特征谱线进行分析，判断所述待检复杂基体矿石样品的特征谱线中是否存在预设基准样品特征谱线；若存在，则基于所述待检复杂基体矿石样品进行分析，得到抗干扰基准样品；基于所述抗干扰基准样品对复杂基体矿物进行分析，得到所述复杂基体矿物内干扰元素含量信息。本发明基于干扰对调干扰原理，以一组具有典型各种干扰元素的矿物为基准，结合制作成一个圆球状多棱镜型装置，通过模型，排除其他干扰，保证利用X射线荧光技术快速分析报关货物工作流程。

技术领域

本申请涉及数据处理和数据传输领域，更具体的，涉及基于X射线荧光鉴别复杂基体矿物的方法、系统和介质。

背景技术

出入境检验工作中，检验员常需按商品归类或国家标准要求，检测未知矿物样品中的一种或多种特定成分。常用的化学分析方法虽然准确，但受限于严格的制样要求和长时间的物理化学处理流程，逐渐不能满足快速通关的发展需求。另外，对于复杂基体矿物，容易受到谱线之间的干扰从而出现误判。

X射线荧光技术是利用X射线照射样品，使待测样品元素原子在X射线照射下发生电子跃迁，此时待测样品元素原子会发出X射线，由于每一种元素的原子能级结构是特定的，所以它被激发时所放出的X射线的能量也是特定的，称之为特征X射线，通过测定特征X射线的能量或者波长即可确定相应元素的存在，特征X射线的强度则表征了元素的含量，由于这项技术具有检测速度快、前处理简单等优点，在新材料开发、地质勘探、冶金等相关领域有广泛的实际应用情景。然而，原子的电子在吸收X射线后会所发生的能级跃迁是多种多样的，这就导致不同原子的不同能级跃迁所释放的特征X射线能量或者波长有可能是相近的，如此便导致了检测谱图谱线重合的问题，如图8中Hf元素Lα线与Zr元素Kα线重叠，图9中Hf元素Lβ线与Ti元素的Kα线重叠，图10中Pb元素Lα线、Hf元素LG线与As元素Kα线重叠。因此，日常监测中，在检测基体结构非常复杂的样品时，谱线容易受到干扰，可能会产生干扰元素和待测元素的谱线重合的情况，通常解决方法选取没有干扰的谱线用做分析线、合理选取测量仪器提升分辨率、使X光管管电压下降到干扰元素的激发电压下，以及数字校正等。但这些方法对于一定硬件实验室来说，实现比较困难，甚至即便是能够实现，遇到具体矿物，还需要耗时耗精力，一不小心也可能产生误判。

因此现有技术存在缺陷，急需改进。

发明内容

鉴于上述问题，本发明的目的是提供基于X射线荧光鉴别复杂基体矿物的方法、系统和介质，能够更有效更快速完成复杂基体未知矿物中是否含有干扰元素X的分析。

本发明第一方面提供了基于X射线荧光鉴别复杂基体矿物的方法，包括：

获取待检复杂基体矿石样品；

对所述待检复杂基体矿石样品进行分析，得到待检复杂基体矿石样品的特征谱线；

根据所述待检复杂基体矿石样品的特征谱线进行分析，判断所述待检复杂基体矿石样品的特征谱线中是否存在预设基准样品特征谱线；

若存在，则基于所述待检复杂基体矿石样品进行分析，得到抗干扰基准样品；

基于所述抗干扰基准样品对复杂基体矿物进行分析，得到所述复杂基体矿物内干扰元素含量信息。

本方案中，所述基于所述待检复杂基体矿石样品进行分析，得到抗干扰基准样品，包括：

根据所述待检复杂基体矿石样品的特征谱线进行分析，判断所述待检复杂基体矿石样品的特征谱线中是否存在干扰；

若不存在干扰，则对待测物质x进行计算，得到待测物质x的含量数据；

若存在干扰，则得到谱线L0，并对所述待检复杂基体矿石样品进行标注，得到干扰矿物；