[发明专利]芯片的测试方法和装置在审
| 申请号： | 202310771247.2 | 申请日： | 2023-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN116955029A | 公开（公告）日： | 2023-10-27 |
| 发明（设计）人： | 祝偲博;汤利顺;孙琦;安然;禹晶晶;郭雨鑫;张笑游 | 申请（专利权）人： | 中国第一汽车股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京博浩百睿知识产权代理有限责任公司 11134 | 代理人： | 薛芸 |
| 地址： | 130011 吉林省长*** | 国省代码： | 吉林;22 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种芯片的测试方法和装置，其中，该方法包括：获取芯片上存储的安全启动系统的原始程序包；基于安全启动系统在安全启动过程中的信任链，确定程序包的二进制编码文件中需要替换的第一字节，且将二进制编码文件中第一字节替换为第二字节，得到目标程序包；通过目标私钥对目标程序包进行签名，得到签名数据；将签名数据和目标公钥录入至芯片中，并对芯片进行安全启动测试，得到测试结果，其中，测试结果用于表征安全启动系统的运行状况。本发明解决了无法对安全启动系统的有效性进行测试的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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