[发明专利]存储产品测试方法和系统、电子设备、存储介质在审

专利信息
申请号: 202310769579.7 申请日: 2023-06-27
公开(公告)号: CN116884470A 公开(公告)日: 2023-10-13
发明(设计)人: 贺乐;赖鼐;龚晖 申请(专利权)人: 珠海妙存科技有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56;G06F11/22
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 林灿伟
地址: 519000 广东省珠海市*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种存储产品测试方法、系统、电子设备和存储介质,涉及存储产品技术领域。存储产品测试方法包括以下步骤:测试主机发送测试命令给主控平台;主控平台将测试命令转发给对应的待测产品;根据测试命令,待测产品执行测试操作,并将测试数据存入第一缓存区;主控平台读取第一缓存区内的测试数据,并将测试数据存入第二缓存区;测试主机读取第二缓存区内的测试数据,获得待测产品的测试结果。根据本发明实施例的存储产品测试方法,能够通过一台测试主机,实现同时对多个待测产品进行测试,从而实现存储产品的大规模自动化测试,提升测试效率;且测试主机获得测试结果后,能够通过显示界面进行展示,使得人员能够直观查看结果。
搜索关键词: 存储 产品 测试 方法 系统 电子设备 介质
【主权项】:
暂无信息
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