[发明专利]一种新型具有打标机构的芯片测试装置在审
| 申请号： | 202310722237.X | 申请日： | 2023-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN116689337A | 公开（公告）日： | 2023-09-05 |
| 发明（设计）人： | 黄永 | 申请（专利权）人： | 中天恒星（上海）科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/36 | 分类号： | B07C5/36;B07C5/02 |
| 代理公司： | 上海海贝律师事务所 31301 | 代理人： | 金星 |
| 地址： | 201210 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种新型具有打标机构的芯片测试装置，包括传送带和位置调整板，传送带为封闭矩形，位置调整板的外侧安装有用于驱动L形管转动的打点电机，L形管的另一端嵌入有可转动的滚珠。本发明设置了打点组件，当检测组件检测到芯片不合格时，打点电机带动L形管旋转，L形管旋转时，滚珠旋转至芯片上，滚珠能够在芯片上滚动，芯片挤压插入，使得弹簧被压缩，进而延长滚珠与芯片接触的时间，进而实现便于芯片被颜料划线，将颜料以划线的方式涂覆在芯片上，进而在工作人员对芯片进行下料时，线状颜料能够快速的分别和合格与不合格产品，位置调整板下方的斜面可自动调整芯片位置，避免了工作人员手动高精度对准导致的劳动强度增大的情况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 新型 具有 机构 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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