[发明专利]微量元素分析仪检出限性能测试方法、装置与电子设备在审
| 申请号: | 202310715503.6 | 申请日: | 2023-06-15 |
| 公开(公告)号: | CN116593570A | 公开(公告)日: | 2023-08-15 |
| 发明(设计)人: | 张会永;李若彪;王冕;许梦祥;蔡鸣;张书亚;翁申达;梁炎 | 申请(专利权)人: | 瑞莱谱(杭州)医疗科技有限公司 |
| 主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62;G01N27/626;G01N27/26;G01N30/72 |
| 代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 汪凡 |
| 地址: | 310000 浙江省杭州市滨*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | 本申请提供了一种微量元素分析仪检出限性能测试方法、装置、计算机可读存储介质与电子设备。该方法包括:对微量元素分析仪进行点火控制,并且在微量元素分析仪点火成功后对微量元素分析仪进行调谐控制;在经过调谐控制且微量元素分析仪满足测试标准的情况下,对微量元素分析仪进行参数的选择得到目标参数,并对目标参数进行编辑,其中,目标参数为对微量元素分析仪进行检出限性能测试所需要的参数,其中,编辑为对目标参数的相关性能进行设置;对选择和编辑后的目标参数进行样本相关性能检测,并对样本相关性能检测结果进行分析并且得到检出限性能测试的分析结果。实现了对微量元素分析仪检出限性能的规范化测试。 | ||
| 搜索关键词: | 微量元素 分析 检出 性能 测试 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】:
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