[发明专利]微量元素分析仪检出限性能测试方法、装置与电子设备在审
| 申请号: | 202310715503.6 | 申请日: | 2023-06-15 |
| 公开(公告)号: | CN116593570A | 公开(公告)日: | 2023-08-15 |
| 发明(设计)人: | 张会永;李若彪;王冕;许梦祥;蔡鸣;张书亚;翁申达;梁炎 | 申请(专利权)人: | 瑞莱谱(杭州)医疗科技有限公司 |
| 主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62;G01N27/626;G01N27/26;G01N30/72 |
| 代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 汪凡 |
| 地址: | 310000 浙江省杭州市滨*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 微量元素 分析 检出 性能 测试 方法 装置 电子设备 | ||
1.一种微量元素分析仪检出限性能测试方法,其特征在于,包括:
对微量元素分析仪进行点火控制,并且在所述微量元素分析仪点火成功后对所述微量元素分析仪进行调谐控制;
在经过所述调谐控制且所述微量元素分析仪满足测试标准的情况下,对所述微量元素分析仪进行参数的选择得到目标参数,并对所述目标参数进行编辑,其中,目标参数为对所述微量元素分析仪进行检出限性能测试所需要的参数,其中,所述编辑为对所述目标参数的相关性能进行设置;
对选择和编辑后的所述目标参数进行样本相关性能检测,并对样本相关性能检测结果进行分析并且得到检出限性能测试的分析结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对微量元素分析仪进行点火控制,包括:
响应于作用在仪器控件上的第一预设操作,在显示屏幕中展示操作仪器界面;
响应于作用在所述操作仪器界面中的连接仪器控件上的第二预设操作,以连接所述微量元素分析仪,并且在所述显示屏幕中弹出打开真空控件和仪器点火控件;
响应于作用在所述打开真空控件上的第三预设操作,控制所述微量元素分析仪进入真空就绪状态;
响应于作用在所述仪器点火控件上的第四预设操作,控制所述微量元素分析仪进入运行状态。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述微量元素分析仪点火成功后对所述微量元素分析仪进行调谐控制,包括:
响应于作用在显示界面中的仪器控制控件上的第五预设操作,在所述仪器控制控件的下方弹出手动调谐控件和自动调谐控件;
响应于作用在所述自动调谐控件上的第六预设操作,在所述显示界面上展示自动调谐方法列表,响应于作用在所述自动调谐方法列表上的第七预设操作从所述自动调谐方法列表中选中目标自动调谐方法,以采用所述目标自动调谐方法对所述微量元素分析仪进行自动调谐;
响应于作用在所述手动调谐控件上的第八预设操作,调用自动调谐过程得到的历史数据,以对所述微量元素分析仪进行调谐控制。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对所述微量元素分析仪进行参数的选择得到目标参数,并对所述目标参数进行编辑,包括:
响应于作用在显示界面中的方法编辑控件上的第九预设操作,在显示屏幕上展示参数选择编辑画面;
响应于作用在所述参数选择编辑画面中的采样参数控件,在所述参数选择编辑画面上弹出参数显示列表,并且响应于作用在所述参数显示列表上的第十预设操作,以添加元素或者减少元素,并且添加或删除调谐;
响应于作用在所述参数选择编辑画面中的分析参数控件,在所述参数选择编辑画面上弹出参数分析列表,并且响应于作用在所述参数分析列表上的第十一预设操作,选中需要修改项,以进行修改;
响应于作用在所述参数选择编辑画面中的进样参数控件,在所述参数选择编辑画面上弹出参数编辑画面,响应于作用在所述参数编辑画面中的参数编辑控件上的第十二预设操作,以进行参数编辑。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在响应于作用在所述参数编辑画面中的参数编辑控件上的第十二预设操作,以进行参数编辑之后,所述方法还包括:
响应于作用在所述参数选择编辑画面中的样本列表控件,在所述参数选择编辑画面的第四预设区域弹出样本列表画面,并且响应于作用在所述样本列表画面上的第十三预设操作,以至少进行样本的添加。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在对所述微量元素分析仪进行调谐控制之后,所述方法还包括:对所述微量元素分析仪进行样本检测控制;
其中,对所述微量元素分析仪进行样本检测控制,包括:
响应于作用在显示界面中的样本检测控件上的第十四预设操作,在显示屏幕上展示样本检测画面,并且响应于作用在所述样本检测画面上的创建控件上的第十五预设操作,在所述样本检测画面上弹出选择检测模板列表,以从所述选择检测模板列表中选择出目标检测模板,以采用所述目标检测模板进行样本检测。
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