[发明专利]微量元素分析仪检出限性能测试方法、装置与电子设备

说明书

本申请提供了一种微量元素分析仪检出限性能测试方法、装置、计算机可读存储介质与电子设备。该方法包括：对微量元素分析仪进行点火控制，并且在微量元素分析仪点火成功后对微量元素分析仪进行调谐控制；在经过调谐控制且微量元素分析仪满足测试标准的情况下，对微量元素分析仪进行参数的选择得到目标参数，并对目标参数进行编辑，其中，目标参数为对微量元素分析仪进行检出限性能测试所需要的参数，其中，编辑为对目标参数的相关性能进行设置；对选择和编辑后的目标参数进行样本相关性能检测，并对样本相关性能检测结果进行分析并且得到检出限性能测试的分析结果。实现了对微量元素分析仪检出限性能的规范化测试。

技术领域

本申请涉及微量元素分析领域，具体而言，涉及一种微量元素分析仪检出限性能测试方法、装置、计算机可读存储介质与电子设备。

背景技术

质谱检测高灵敏度、高特异性、重现性好，兼具高通量、高效率和低成本优势。随着临床质谱的不断发展与进步，其应用也越加普遍。最常用的质谱技术有：气相色谱质谱、液相色谱质谱、飞行时间质谱与电感耦合等离子体质谱。

稳定性是仪器随时间推移保持特性一致性的能力，是仪器必须具备的基础属性，是确保仪器使用过程中有效性的重要指标。因此，质谱仪器除了满足常规的性能要求外，更应该针对使用场景，满足对应的关键性能稳定性的使用要求。

然而，为了实现对质谱仪器在使用中的关键性能稳定性的准确评价，得到关键性能尤为重要，关键性能测试中微量元素分析仪检出限性能测试尤为重要，目前的技术中缺乏一种规范性的微量元素分析仪检出限性能测试流程。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种微量元素分析仪检出限性能测试方法、装置、计算机可读存储介质与电子设备，以至少解决目前的技术中缺乏一种规范性的微量元素分析仪检出限性能测试流程问题。

为了实现上述目的，根据本申请的一个方面，提供了一种微量元素分析仪检出限性能测试方法，包括：对微量元素分析仪进行点火控制，并且在所述微量元素分析仪点火成功后对所述微量元素分析仪进行调谐控制；在经过所述调谐控制且所述微量元素分析仪满足测试标准的情况下，对所述微量元素分析仪进行参数的选择得到目标参数，并对所述目标参数进行编辑，其中，目标参数为对所述微量元素分析仪进行检出限性能测试所需要的参数，其中，所述编辑为对所述目标参数的相关性能进行设置；对选择和编辑后的所述目标参数进行样本相关性能检测，并对样本相关性能检测结果进行分析并且得到检出限性能测试的分析结果。

根据本申请的另一个方面，提供了一种微量元素分析仪检出限性能测试装置，包括：第一控制单元，用于对微量元素分析仪进行点火控制，并且在所述微量元素分析仪点火成功后对所述微量元素分析仪进行调谐控制；第一处理单元，用于在经过所述调谐控制且所述微量元素分析仪满足测试标准的情况下，对所述微量元素分析仪进行参数的选择得到目标参数，并对所述目标参数进行编辑，其中，目标参数为对所述微量元素分析仪进行检出限性能测试所需要的参数，其中，所述编辑为对所述目标参数的相关性能进行设置；第二处理单元，用于对选择和编辑后的所述目标参数进行样本相关性能检测，并对样本相关性能检测结果进行分析并且得到检出限性能测试的分析结果。

根据本申请的又一个方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行任一种所述的微量元素分析仪检出限性能测试方法。

根据本申请的再一个方面，提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器，存储器，以及一个或多个程序，其中，所述一个或多个程序被存储在所述存储器中，并且被配置为由所述一个或多个处理器执行，所述一个或多个程序包括用于执行任一种所述的微量元素分析仪检出限性能测试方法。