[发明专利]芯片动态老炼实验的老炼板和老炼实验方法在审
| 申请号： | 202310624791.4 | 申请日： | 2023-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN116643150A | 公开（公告）日： | 2023-08-25 |
| 发明（设计）人： | 张金伟;康海斌;夏国英;张俊 | 申请（专利权）人： | 西安京瀚禹电子工程技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/26 |
| 代理公司： | 西安智典联合专利代理事务所(普通合伙) 61299 | 代理人： | 张鹏 |
| 地址： | 710000 陕西省西安市高新*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片动态老炼实验老炼板和老炼实验方法，芯片动态老炼实验老炼板，包括输入信号单元、降压限流单元、信号滤波单元以及输出和回检信号单元，输入信号单元接收上位机下发的电源电压信号和老炼向量信号；降压限流单元对接收到的信号的降压限流并加载到待测芯片上以使其在高温环境下进行动态老炼；信号滤波单元与待测芯片连接用于接收待测芯片动态老炼的输出信号并进行滤波；输出和回检信号单元与信号滤波单元连接用于将滤波后的输出信号发送到上位机以直观展示待测芯片的运行状态。从而解决了现有技术中的老炼板没有动态老炼能力或只能进行简单的静态老炼试验，不能最大化地激发电路的潜在缺陷的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 动态 实验 老炼板 方法 | ||
【主权项】：
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