[发明专利]芯片动态老炼实验的老炼板和老炼实验方法在审

专利信息
申请号: 202310624791.4 申请日: 2023-05-30
公开(公告)号: CN116643150A 公开(公告)日: 2023-08-25
发明(设计)人: 张金伟;康海斌;夏国英;张俊 申请(专利权)人: 西安京瀚禹电子工程技术有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/26
代理公司: 西安智典联合专利代理事务所(普通合伙) 61299 代理人: 张鹏
地址: 710000 陕西省西安市高新*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 芯片 动态 实验 老炼板 方法
【权利要求书】:

1.一种芯片动态老炼实验老炼板,其特征在于,包括:

输入信号单元(10),所述输入信号单元(10)与老炼机台上位机连接,所述输入信号单元(10)用于接收所述老炼机台上位机下发的电源电压信号和老炼向量信号;

降压限流单元(20),所述降压限流单元(20)与所述输入信号单元(10)和待测芯片均连接,所述降压限流单元(20)用于对所述电源电压信号和所述老炼向量信号的降压限流并加载到所述待测芯片上以使所述待测芯片在高温环境下进行动态老炼实验;

信号滤波单元(30),所述信号滤波单元(30)与所述待测芯片连接,所述信号滤波单元(30)用于接收所述待测芯片动态老炼实验的输出信号并进行滤波;

输出和回检信号单元(40),所述输出和回检信号单元(40)与所述信号滤波单元(30)连接,所述输出和回检信号单元(40)用于将经过所述信号滤波单元(30)滤波的所述输出信号发送到所述老炼机台上位机以使所述老炼机台上位机直观展示所述待测芯片的运行状态。

2.根据权利要求1所述的芯片动态老炼实验老炼板,其特征在于,所述输入信号单元(10)接收的所述电源电压信号为两个,所述降压限流单元(20)包括:

限流模块(21),所述限流模块(21)为多个,多个所述限流模块(21)与所述输入信号单元(10)和所述待测芯片均连接,多个所述限流模块(21)用于对多个所述动态老炼信号进行限流并加载到所述待测芯片;

滤波模块(22),所述滤波模块(22)为多个,多个所述滤波模块(22)与所述输入信号单元(10)和所述待测芯片均连接,多个所述滤波模块(22)用于对两个所述电源电压信号进行滤波并加载到所述待测芯片;

稳压芯片模块(23),所述稳压芯片模块(23)与所述输入信号单元(10)与所述待测芯片均连接,其中一个所述电源电压信号通过所述稳压芯片模块(23)调整变压并加载到所述待测芯片。

3.根据权利要求2所述的芯片动态老炼实验老炼板,其特征在于,所述限流模块(21)包括:

限流电阻(211),所述限流电阻(211)为多个,多个所述限流电阻(211)与所述输入信号单元(10)和所述待测芯片均连接,多个所述限流电阻(211)用于对多个所述动态老炼信号进行限流。

4.根据权利要求2所述的芯片动态老炼实验老炼板,其特征在于,所述滤波模块(22)包括:

滤波电容(221),所述滤波电容(221)为多个,多个所述滤波电容(221)与所述输入信号单元(10)和所述待测芯片均连接,多个所述滤波电容(221)用于对两个所述电源电压信号进行滤波。

5.根据权利要求1所述的芯片动态老炼实验老炼板,其特征在于,所述信号滤波单元(30)还包括:

负载电阻(31),所述负载电阻(31)为多个,多个所述负载电阻(31)与所述待测芯片均连接,所述多个负载电阻(31)用于接收所述待测芯片动态老炼实验的输出信号并进行滤波。

6.根据权利要求5所述的芯片动态老炼实验老炼板,其特征在于,所述输出和回检信号单元(40)包括:

发光二极管(41),所述发光二极管(41)与所述负载电阻(31)连接,所述发光二极管(41)用于接收所述负载电阻(31)滤波的所述输出信号并根据所述输出信号进行发光,以及将所述输出信号反馈到所述老炼机台上位机进行回检。

7.一种芯片动态老炼实验老炼实验方法,其特征在于,包括:

通过老炼机台上位机上输入并设定温度条件、电源电压信号和老炼向量信号,并下发所述电源电压信号和所述老炼向量至老炼板;

所述老炼板对所述电源电压信号和所述老炼向量信号进行降压滤波;

将待测芯片在设定的所述温度条件和所述电源电压信号作用下根据所述老炼向量信号进行动态老炼实验并将实验输出回检信号发送至所述老炼板;

所述老炼板将所述输出回检信号回传至所述老炼机台上位机并在所述老炼机台上位机上进行回检以及通过示波器显示所述动态老炼实验的结果波形。

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