[发明专利]一种晶体硅光伏组件PID测试方法在审

专利信息
申请号: 202310545054.5 申请日: 2023-05-16
公开(公告)号: CN116470850A 公开(公告)日: 2023-07-21
发明(设计)人: 王永泽;韩华华;张颖;蒋京娜;田思;王云芳;杨燕;陈炯亮;李英叶;荣丹丹;吕长琪;李学健 申请(专利权)人: 英利能源发展有限公司
主分类号: H02S50/10 分类号: H02S50/10;H02S50/15
代理公司: 河北磅礴律师事务所 13139 代理人: 张建旗
地址: 071000 河北省保定*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明属于光伏组件测试领域,具体公开了一种晶体硅光伏组件PID测试方法,包括步骤S1、对测试样品组件第一次测试,记录最大功率一;S2、对测试样品组件进行PID试验,持续96小时后,在6小时内对测试样品组件进行第二次测试,记录最大功率二;S3、对测试样品组件进行PID后干热恢复处理,将测试样品组件开路放置在85~110℃的环境试验箱内进行干热试验96小时后进行第三次测试,记录最大功率三;若最大功率三>最大功率二,记录PID后真实功率为最大功率三;若最大功率三≤最大功率二,记录PID后真实功率为最大功率二。本测试方法能够排查其他恢复方法不能恢复的缺陷,降低非本质PID现象造成的功率衰减,提高PID测试的精确性。
搜索关键词: 一种 晶体 硅光伏 组件 pid 测试 方法
【主权项】:
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