[发明专利]参数校验方法、装置、计算机设备及存储介质在审
| 申请号: | 202310523550.0 | 申请日: | 2023-05-10 | 
| 公开(公告)号: | CN116610354A | 公开(公告)日: | 2023-08-18 | 
| 发明(设计)人: | 李国庆;廖振伟;左勇 | 申请(专利权)人: | 智慧眼科技股份有限公司 | 
| 主分类号: | G06F8/70 | 分类号: | G06F8/70 | 
| 代理公司: | 深圳和睿宏景知识产权代理有限公司 44836 | 代理人: | 张宏杰 | 
| 地址: | 410000 湖南省长沙市高新*** | 国省代码: | 湖南;43 | 
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| 摘要: | 本发明涉及参数校验领域,公开了一种参数校验方法、装置、计算机设备及存储介质,所述方法包括:生成注解类和切面类,其中,所述注解类用于标记封装的逻辑代码块中的参数,所述切面类用于拦截包含所述注解类的逻辑代码块,并对所述逻辑代码块中的参数进行校验;当所述切面类拦截到包含所述注解类的逻辑代码块时,通过环绕增强方法,获取所述逻辑代码块的入参信息;获取所述注解类的参数信息;基于预设的参数校验方法,对所述注解类的参数信息和所述入参信息进行参数校验,得到校验结果,采用本发明提高对封装的逻辑代码块进行参数校验的效率。 | ||
| 搜索关键词: | 参数 校验 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
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