[发明专利]参数校验方法、装置、计算机设备及存储介质

说明书

本发明涉及参数校验领域，公开了一种参数校验方法、装置、计算机设备及存储介质，所述方法包括：生成注解类和切面类，其中，所述注解类用于标记封装的逻辑代码块中的参数，所述切面类用于拦截包含所述注解类的逻辑代码块，并对所述逻辑代码块中的参数进行校验；当所述切面类拦截到包含所述注解类的逻辑代码块时，通过环绕增强方法，获取所述逻辑代码块的入参信息；获取所述注解类的参数信息；基于预设的参数校验方法，对所述注解类的参数信息和所述入参信息进行参数校验，得到校验结果，采用本发明提高对封装的逻辑代码块进行参数校验的效率。

技术领域

本发明涉及参数校验领域，尤其涉及一种参数校验方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

随着互联网技术的发展，各种基础技术迭代也在不断更新，系统的业务功能也是频繁的变动，进入敏捷式开发的过程。

在系统业务功能运行过程中，总会出现业务功能采用一个或多个封装的逻辑代码块进行执行，但在封装到逻辑代码块中，缺少一些参数或者参数存在异常时，将导致整个流程无法执行下去，该参数不一定是必要参数。

现有解决上述问题的方法为通过编写繁杂的代码对每一个封装的逻辑代码块中参数进行校验，发明人在实现本发明的过程中意识到，现有方式至少存在如下问题：由于每个封装的逻辑代码块涉及的参数不同，针对每个封装的逻辑代码块中参数进行校验均需要单独编写判断代码，编写重复繁杂的代码导致了开发时间增加，导致进行参数校验效率低下的技术问题。

发明内容

本发明实施例提供一种参数校验方法、装置、计算机设备和存储介质，以提高对封装的逻辑代码块进行参数校验的效率。

为了解决上述技术问题，本申请实施例提供一种参数校验方法，包括：

生成注解类和切面类，其中，所述注解类用于标记封装的逻辑代码块中的参数，所述切面类用于拦截包含所述注解类的逻辑代码块，并对所述逻辑代码块中的参数进行校验；

当所述切面类拦截到包含所述注解类的逻辑代码块时，通过环绕增强方法，获取所述逻辑代码块的入参信息；

获取所述注解类的参数信息；

基于预设的参数校验方法，对所述注解类的参数信息和所述入参信息进行参数校验，得到校验结果。

为了解决上述技术问题，本申请实施例还提供一种参数校验装置，包括：

注解类和切面类生成模块，用于生成注解类和切面类，其中，所述注解类用于标记封装的逻辑代码块中的参数，所述切面类用于拦截包含所述注解类的逻辑代码块，并对所述逻辑代码块中的参数进行校验；

入参信息获取模块，用于当所述切面类拦截到包含所述注解类的逻辑代码块时，通过环绕增强方法，获取所述逻辑代码块的入参信息；

参数信息获取模块，用于获取所述注解类的参数信息；

校验模块，用于基于预设的参数校验方法，对所述注解类的参数信息和所述入参信息进行参数校验，得到校验结果。

为了解决上述技术问题，本申请实施例还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述参数校验方法的步骤。

为了解决上述技术问题，本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述参数校验方法的步骤。

本发明实施例提供的参数校验方法、装置、计算机设备及存储介质，通过切面类拦截包含注解类的逻辑代码块，并对逻辑代码块中的参数执行与该注解类相对应的校验方式，避免了因每个封装的逻辑代码块涉及的参数不同，针对每个封装的逻辑代码块中参数进行校验均需要单独编写判断代码，从而提高对封装的逻辑代码块进行参数校验的效率。