[发明专利]一种半导体器件测试用高效测试机台

摘要

本发明公开了一种半导体器件测试用高效测试机台，包括机架，所述机架的内部设置有检测台，所述检测台的上端设置有传送机构，所述机架的上端固定有安装支架，所述安装支架的上端固定有电机，所述电机的主轴贯穿安装支架并固定有调节杆，所述调节杆为往复丝杆，所述调节杆的周向侧壁螺纹转动连接有水平移动板，所述水平移动板的底部固定有连接块，所述连接块的底部固定有水平块。优点在于：通过设置自动散热装置，可在水平块和测试设备下移时，实现竖直转杆以及呈扇叶状的转板的持续旋转，进而可加快测试设备周围空气的快速流动，从而方便对测试设备的散热使用，可避免大批量半导体器件测试时发热，能够有效保证测试装置的使用寿命。