[发明专利]一种半导体器件测试用高效测试机台

权利要求书

1.一种半导体器件测试用高效测试机台，包括机架(1)，其特征在于，所述机架(1)的内部设置有检测台(2)，所述检测台(2)的上端设置有传送机构(20)，所述机架(1)的上端固定有安装支架(3)，所述安装支架(3)的上端固定有电机(4)，所述电机(4)的主轴贯穿安装支架(3)并固定有调节杆(5)，所述调节杆(5)为往复丝杆，所述调节杆(5)的周向侧壁螺纹转动连接有水平移动板(6)，所述水平移动板(6)的底部固定有连接块(7)，所述连接块(7)的底部固定有水平块(8)，所述水平块(8)的内部设置有测试设备(9)，所述安装支架(3)的内部固定有多个连接板(10)，多个所述连接板(10)的底部共同固定有密封挡块(11)，所述密封挡块(11)的上端和水平块(8)的内部共同设置有多组自动散热装置，所述机架(1)的内部设置有两组对称设置的限位夹紧装置。

2.根据权利要求1所述的一种半导体器件测试用高效测试机台，其特征在于，所述安装支架(3)为U型架，所述连接块(7)为“回”型块，所述密封挡块(11)与连接块(7)内壁密封相抵，所述测试设备(9)位于传送机构(20)的正上方，所述水平移动板(6)与多个连接板(10)均贯穿滑动连接。

3.根据权利要求1所述的一种半导体器件测试用高效测试机台，其特征在于，所述自动散热装置包括与密封挡块(11)上端通过轴承转动连接有的从动齿轮(12)，所述水平移动板(6)的底部通过轴承转动连接有竖直转杆(13)，所述竖直转杆(13)的侧壁开设有滑动槽(14)，所述从动齿轮(12)的内壁固定有限位块(15)，所述限位块(15)与滑动槽(14)内壁相抵。

4.根据权利要求3所述的一种半导体器件测试用高效测试机台，其特征在于，所述竖直转杆(13)的底部贯穿密封挡块(11)并延伸至水平块(8)的内部，所述水平块(8)的底部开设有安装槽(17)，所述竖直转杆(13)的周向侧壁固定有多个转板(18)，所述转板(18)呈扇叶状，所述转板(18)位于安装槽(17)内部，所述安装槽(17)的内顶部贯穿开设有多个连接槽(19)。

5.根据权利要求4所述的一种半导体器件测试用高效测试机台，其特征在于，所述调节杆(5)的底部与密封挡块(11)上端通过轴承转动连接，所述调节杆(5)的周向侧壁固定有主动齿轮(16)，多个所述从动齿轮(12)均与主动齿轮(16)啮合。

6.根据权利要求5所述的一种半导体器件测试用高效测试机台，其特征在于，所述密封挡块(11)的底部开设有圆形槽(21)，所述圆形槽(21)的内壁固定有滤板(22)，所述调节杆(5)的底部固定有连接杆(23)，所述连接杆(23)的底部贯穿至圆形槽(21)内部并与滤板(22)上端相抵，所述连接杆(23)的周向侧壁固定有多个旋转刮板(24)，所述圆形槽(21)的内部通过多个进气管(25)与外部连通。

7.根据权利要求1所述的一种半导体器件测试用高效测试机台，其特征在于，所述限位夹紧装置包括固定与机架(1)内顶部的竖直导向杆(26)，所述竖直导向杆(26)的周向侧壁套设有竖直滑动块(27)，所述竖直滑动块(27)的侧壁通过固定板(28)与连接块(7)侧壁固定连接，所述固定板(28)倾斜设置，所述机架(1)的端部贯穿滑动连接有多个水平限位杆(32)，多个所述水平限位杆(32)的端部共同固定有抵紧板(29)。

8.根据权利要求7所述的一种半导体器件测试用高效测试机台，其特征在于，所述抵紧板(29)与检测台(2)上端相抵，所述抵紧板(29)的一端侧壁和竖直滑动块(27)的侧壁通过铰链共同转动连接有偏转块(30)，所述抵紧板(29)的另一端侧壁固定有接触块(31)，所述接触块(31)采用橡胶材料制成。