[发明专利]一种半导体器件测试用高效测试机台

说明书

本发明公开了一种半导体器件测试用高效测试机台，包括机架，所述机架的内部设置有检测台，所述检测台的上端设置有传送机构，所述机架的上端固定有安装支架，所述安装支架的上端固定有电机，所述电机的主轴贯穿安装支架并固定有调节杆，所述调节杆为往复丝杆，所述调节杆的周向侧壁螺纹转动连接有水平移动板，所述水平移动板的底部固定有连接块，所述连接块的底部固定有水平块。优点在于：通过设置自动散热装置，可在水平块和测试设备下移时，实现竖直转杆以及呈扇叶状的转板的持续旋转，进而可加快测试设备周围空气的快速流动，从而方便对测试设备的散热使用，可避免大批量半导体器件测试时发热，能够有效保证测试装置的使用寿命。

技术领域

本发明涉及半导体测试技术领域，尤其涉及一种半导体器件测试用高效测试机台。

背景技术

半导体是指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，广泛饮用于集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等众多领域，在生产完成后需要利用半导体测试头对其进行测试，检测每个产品的使用性能，确保生产质量；而由于传统的测试头的散热能力不足，在对大量半导体器件进行持续测试后，会使得测试头周围产生较多的热量，容易造成测试头的损坏，从而会降低测试头的使用寿命，而且大多设备需要人为将需要测试的半导体器件进行定位，使得自动化程度较低，从而不便于半导体的高效测试使用，为此，我们提出了一款便于散热且高效的半导体器件测试用高效测试机台。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术中测试效率较低的问题，而提出的一种半导体器件测试用高效测试机台。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：一种半导体器件测试用高效测试机台，包括机架，所述机架的内部设置有检测台，所述检测台的上端设置有传送机构，所述机架的上端固定有安装支架，所述安装支架的上端固定有电机，所述电机的主轴贯穿安装支架并固定有调节杆，所述调节杆为往复丝杆，所述调节杆的周向侧壁螺纹转动连接有水平移动板，所述水平移动板的底部固定有连接块，所述连接块的底部固定有水平块，所述水平块的内部设置有测试设备，所述安装支架的内部固定有多个连接板，多个所述连接板的底部共同固定有密封挡块，所述密封挡块的上端和水平块的内部共同设置有多组自动散热装置，所述机架的内部设置有两组对称设置的限位夹紧装置。

在上述的一种半导体器件测试用高效测试机台中，所述安装支架为U型架，所述连接块为“回”型块，所述密封挡块与连接块内壁密封相抵，所述测试设备位于传送机构的正上方，所述水平移动板与多个连接板均贯穿滑动连接。

在上述的一种半导体器件测试用高效测试机台中，所述自动散热装置包括与密封挡块上端通过轴承转动连接有的从动齿轮，所述水平移动板的底部通过轴承转动连接有竖直转杆，所述竖直转杆的侧壁开设有滑动槽，所述从动齿轮的内壁固定有限位块，所述限位块与滑动槽内壁相抵。

在上述的一种半导体器件测试用高效测试机台中，所述竖直转杆的底部贯穿密封挡块并延伸至水平块的内部，所述水平块的底部开设有安装槽，所述竖直转杆的周向侧壁固定有多个转板，所述转板呈扇叶状，所述转板位于安装槽内部，所述安装槽的内顶部贯穿开设有多个连接槽。

在上述的一种半导体器件测试用高效测试机台中，所述调节杆的底部与密封挡块上端通过轴承转动连接，所述调节杆的周向侧壁固定有主动齿轮，多个所述从动齿轮均与主动齿轮啮合。

在上述的一种半导体器件测试用高效测试机台中，所述密封挡块的底部开设有圆形槽，所述圆形槽的内壁固定有滤板，所述调节杆的底部固定有连接杆，所述连接杆的底部贯穿至圆形槽内部并与滤板上端相抵，所述连接杆的周向侧壁固定有多个旋转刮板，所述圆形槽的内部通过多个进气管与外部连通。

在上述的一种半导体器件测试用高效测试机台中，所述限位夹紧装置包括固定与机架内顶部的竖直导向杆，所述竖直导向杆的周向侧壁套设有竖直滑动块，所述竖直滑动块的侧壁通过固定板与连接块侧壁固定连接，所述固定板倾斜设置，所述机架的端部贯穿滑动连接有多个水平限位杆，多个所述水平限位杆的端部共同固定有抵紧板。