[发明专利]测试方法、装置、电子设备、存储介质在审
| 申请号： | 202310457186.2 | 申请日： | 2023-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN116414641A | 公开（公告）日： | 2023-07-11 |
| 发明（设计）人： | 李润宇;赵帅 | 申请（专利权）人： | 上海励驰半导体有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734 | 代理人： | 周伟 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供了一种测试方法、装置、电子设备，所述方法包括：为两个以上晶片分别配置测试固件，以及，将两个以上晶片中的第一晶片设置为主节点，将其余晶片设置为从节点；响应于第一晶片检测到第一测试指令，触发第一晶片向其余晶片发送第一测试指令；响应于第一测试指令，触发两个以上晶片中的每一晶片按测试固件中包含的测试项并行执行相关测试；响应于两个以上晶片中的其余晶片的测试项测试完成，将测试项的测试结果向第一晶片发送；触发第一晶片输出所接收的测试项的测试结果以及自身的测试项的测试结果。本公开能够使两颗以上的晶片同步进行测试，节约了测试时间，减少了芯片测试的投入成本。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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