[发明专利]测试方法、装置、电子设备、存储介质

权利要求书

1.一种测试方法，应用于多核异构芯片中，其特征在于，所述芯片中包括两个以上晶片，所述两个以上晶片之间通过总线连接；所述方法包括：

为所述两个以上晶片分别配置测试固件，以及，将所述两个以上晶片中的第一晶片设置为主节点，将其余晶片设置为从节点；

响应于所述第一晶片检测到第一测试指令，触发所述第一晶片向其余晶片发送所述第一测试指令；

响应于所述第一测试指令，触发所述两个以上晶片中的每一晶片按所述测试固件中包含的测试项并行执行相关测试；

响应于所述两个以上晶片中的其余晶片的测试项测试完成，将测试项的测试结果向所述第一晶片发送；

触发所述第一晶片输出所接收的测试项的测试结果以及自身的测试项的测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

响应于所述芯片上电，触发所述两个以上晶片分别执行第一类别测试；所述第一类别测试包括晶片中自配置的至少一个测试项；

响应于其余晶片的所述第一类别测试的测试完毕，触发其余晶片向所述第一晶片发送所述第一类别测试测试完毕的信息；

响应于所述第一晶片检测到所有晶片的所述第一类别测试的测试结果正常，输出第一指示信息；

响应于所述第一指示信息，生成所述第一测试指令。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述晶片中包括子晶片；

所述两个以上晶片中的每一晶片按所述测试固件中包含的测试项并行执行相关测试，包括：

所述两个以上晶片中的每一晶片中的所有子晶片均按所述测试固件中包含的测试项执行相关测试。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，为所述两个以上晶片分别配置的测试固件完全相同，或部分相同，或完全不同。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一类别测试的测试项包括以下至少之一：

随机存取存储器RAM测试、时钟信号Clock测试、直接存储器存取DMA测试。

6.一种测试装置，应用于多核异构芯片中，其特征在于，所述芯片中包括两个以上晶片，所述两个以上晶片之间通过总线连接；所述装置包括：

设置单元，用于为所述两个以上晶片分别配置测试固件，以及，将所述两个以上晶片中的第一晶片设置为主节点，将其余晶片设置为从节点；

第一触发单元，用于响应于所述第一晶片检测到第一测试指令，触发所述第一晶片向其余晶片发送所述第一测试指令；

第二触发单元，用于响应于所述第一测试指令，使所述两个以上晶片中的每一晶片按所述测试固件中包含的测试项并行执行相关测试；

发送单元，用于响应于所述两个以上晶片中的其余晶片的测试项测试完成，将测试项的测试结果向所述第一晶片发送；

输出单元，用于触发所述第一晶片输出所接收的测试项的测试结果以及自身的测试项的测试结果。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

第三触发单元，用于响应于所述芯片上电，触发所述两个以上晶片分别执行第一类别测试；所述第一类别测试包括晶片中自配置的至少一个测试项；

第四触发单元，用于响应于其余晶片的所述第一类别测试的测试完毕，触发其余晶片向所述第一晶片发送所述第一类别测试测试完毕的信息；

所述输出单元，还用于响应于所述第一晶片检测到所有晶片的所述第一类别测试的测试结果正常，输出第一指示信息；

生成单元，用于响应于所述第一指示信息，生成所述第一测试指令。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述晶片中包括子晶片；

所述第二触发单元，还用于触发所述两个以上晶片中的每一晶片中的所有子晶片均按所述测试固件中包含的测试项执行相关测试。

9.根据权利要求6至8中任一项所述的装置，其特征在于，为所述两个以上晶片分别配置的测试固件完全相同，或部分相同，或完全不同。