[发明专利]用于检测不同波长的光检测装置在审
| 申请号： | 202310417801.7 | 申请日： | 2020-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN116682874A | 公开（公告）日： | 2023-09-01 |
| 发明（设计）人： | 卢彦丞;那允中;陈书履;陈建宇;郑斯璘;林崇致;刘宇轩 | 申请（专利权）人： | 光程研创股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L31/0352 | 分类号： | H01L31/0352;H01L27/146;G01J9/02 |
| 代理公司： | 北京天驰君泰律师事务所 11592 | 代理人： | 孟锐 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 一种光检测装置，包括：第一光检测部件，包括：基板；在该基板中的第一吸收区，该第一吸收区包括具有第一能隙的第一材料；具有第一导电类型的第一掺杂区，其与该第一吸收区相邻且与该基板的表面接触；具有第二导电类型的第二掺杂区，其与该第一吸收区相邻且与该基板的表面接触，其中该第一导电类型不同于该第二导电类型；第一控制端子电耦接至该第一掺杂区；第二控制端子电耦接至该第二掺杂区；以及第二光检测部件，包括：在该第一吸收区上方的第二吸收区，该第二吸收区包括具有第二能隙的第二材料，其中该第二能隙小于该第一能隙，其中该第一掺杂区沿着该第二吸收区的侧壁和底面延伸，以将该第一吸收区和该第二吸收区分开。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 不同 波长 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的，一个或多个电光源，如场致发光光源在结构上相连的，并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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