[发明专利]一种薄膜电阻芯片镍铂丝焊线的方法在审

专利信息
申请号: 202310409621.4 申请日: 2023-04-18
公开(公告)号: CN116140942A 公开(公告)日: 2023-05-23
发明(设计)人: 涂亮亮;王祥;牛琳 申请(专利权)人: 南昌三盛半导体有限公司
主分类号: B23P15/00 分类号: B23P15/00;B21F15/00
代理公司: 南昌逸辰知识产权代理事务所(普通合伙) 36145 代理人: 石聪灿
地址: 330000 江西省南昌市红*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 发明提出一种薄膜电阻芯片镍铂丝焊线的方法,包括:将镍铂丝裁切成固定长度;对固定长度的镍铂丝和薄膜电阻芯片上的焊盘进行表面活化处理;将表面活化处理后的镍铂丝放置在电阻芯片的焊接处,并将铂浆点在镍铂丝与电阻芯片的接触端;采用紫外光对铂浆进行固化;转移至烧结炉中进行烧结;点浆焊接可以完全避免电路击穿,提高了产品良率,也避免因为焊点垫高造成的成本损失,使用等离子体发生器进行表面活化处理,清除表面杂质使得铂浆在焊盘和镍铂丝表面有更好的流动性,可以得到更薄的铂浆使得最终可以获得300μm高度的焊点;同时也提高焊盘‑镍铂丝‑铂浆之间的粘合度,有效提高焊接的紧固程度和导电性能。
搜索关键词: 一种 薄膜 电阻 芯片 镍铂丝焊线 方法
【主权项】:
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