[发明专利]晶圆级铜铜凸点互连结构及其键合方法有效

专利信息
申请号: 202310397169.4 申请日: 2023-04-10
公开(公告)号: CN116153860B 公开(公告)日: 2023-07-18
发明(设计)人: 王传智;刘冠东;李洁;王伟豪;张汝云 申请(专利权)人: 之江实验室
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L23/52
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 亓一舟
地址: 311121 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种晶圆级铜铜凸点互连结构及其键合方法。所述键合方法包括如下步骤:于背景气体下,在晶圆的铜凸点表面,采用能量功率为100mJ‑300mJ的脉冲激光溅射沉积纳米铜层,得到结构晶圆;将纳米铜浆料涂覆于所述结构晶圆中的纳米铜层表面,得到预处理晶圆,其中,所述纳米铜浆料包括纳米铜粉、还原剂、固化剂以及有机溶剂;在还原性气氛中,将另一所述结构晶圆与所述预处理晶圆倒装热压贴合,经热处理固化后冷却静置,完成晶圆级铜铜凸点互连结构的键合。所述键合方法无需引入除铜之外的其他金属就可以实现铜凸点之间的稳定键合,显著提高键合的可靠性,保证良好的导电效果。
搜索关键词: 晶圆级铜铜凸点 互连 结构 及其 方法
【主权项】:
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