[发明专利]紫外激光探针硫化物硫同位素微区原位分析系统及方法在审

专利信息
申请号: 202310332296.6 申请日: 2023-03-31
公开(公告)号: CN116297791A 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 范昌福;胡斌;武晓珮;郭东伟;李延河;孙成鹏 申请(专利权)人: 中国地质科学院矿产资源研究所
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62;G01N1/28;G01N1/44;G01N1/40
代理公司: 北京恒律知识产权代理有限公司 11416 代理人: 庞立岩
地址: 100037 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请涉及一种紫外激光探针硫化物硫同位素微区原位分析系统及方法,其中,所述分析系统包括分析气路,所述分析气路上沿气体流动方向依次设置紫外激光剥蚀装置、微量SO2气体制备装置、SO2气体收集纯化装置、微型分流接口和气体同位素比值质谱仪。本发明将传统激光探针微区原位取样与分析气体制备,由原地同时进行改为异地先后完成,避免了激光剥蚀‑分析气体制备过程中因反应不完全和试剂与基体组分反应产生的分馏和影响;而且针对红外激光加热熔蚀过程中产生的分馏,采用没有明显热效应和基体效应的紫外激光剥蚀样品,产生的气溶胶微粒大小均匀,传输效率高,避免和减少了激光剥蚀和传输过程中发生分馏。
搜索关键词: 紫外 激光 探针 硫化物 同位素 原位 分析 系统 方法
【主权项】:
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