[发明专利]紫外激光探针硫化物硫同位素微区原位分析系统及方法

权利要求书

1.一种紫外激光探针硫化物硫同位素微区原位分析系统，其特征在于，包括分析气路，所述分析气路上沿气体流动方向依次设置紫外激光剥蚀装置(100)、微量SO₂气体制备装置(200)、SO₂气体收集纯化装置(300)、微型分流接口(400)和气体同位素比值质谱仪(500)；

其中，紫外激光剥蚀装置(100)具有193nm准分子激光器(101)和样品池，所述样品池用于盛装含硫化物样品；所述193nm准分子激光器(101)用于从所述样品池中的含硫化物样品中剥蚀出硫化物气溶胶颗粒；

微量SO₂气体制备装置(200)具有反应管，硫化物气溶胶颗粒由氦载气携带进入反应管，并在反应管内高温1020℃反应生成SO₂气体；

SO₂气体收集纯化装置(300)用于收集纯化混合气中的SO₂气体；

经SO₂气体收集纯化装置(300)纯化后的SO₂气体通过微型分流接口(400)供入气体同位素比值质谱仪(500)。

2.根据权利要求1所述的紫外激光探针硫化物硫同位素微区原位分析系统，其特征在于，所述反应管具有第一进口(201)、第二进口(202)和第一出口(203)；其中，第一进口(201)与样品池的出气通道连通，供携带硫化物气溶胶颗粒的氦气流流入；第二进口(202)与氧气源连接，用于供入O₂气体；氦载气携带硫化物气溶胶颗粒由所述第一进口(201)进入反应管，与供入的O₂气体反应后获得含SO₂气体的混合气；含SO₂气体的混合气由第一出口(203)流出进入SO₂气体收集纯化装置(300)。

3.根据权利要求2所述的紫外激光探针硫化物硫同位素微区原位分析系统，其特征在于，SO₂气体收集纯化装置(300)具有通过管路连接的第一收集纯化组件和第二收集纯化组件，以对混合气中的SO₂气体进行两次富集纯化；第一收集纯化组件的进气口与所述第一出口(203)连通，第二收集纯化组件用于对第一收集纯化组件富集提纯后的SO₂气体进行再次富集提纯，第二收集纯化组件的出气口通过微型分流接口(400)连接气体同位素比值质谱仪(500)。

4.根据权利要求3所述的紫外激光探针硫化物硫同位素微区原位分析系统，其特征在于，所述第一收集纯化组件包括第一六通阀(301)和第一冷阱(302)，第二收集纯化组件具有第二六通阀(303)和第二冷阱(304)；第一六通阀(301)的进气阀口与反应管的第一出口(203)连通，第一六通阀(301)的出气阀口与第二六通阀(303)的进气阀口连通，第二六通阀(303)的出气阀口通过特氟龙管连接微型分流接口(400)；第一六通阀(301)的两个阀口连接第一冷阱(302)的两开口端，第二六通阀(303)的两个阀口连接第二冷阱(304)的两开口端。