[发明专利]测厚校准方法、装置、设备和存储介质有效
| 申请号： | 202310323640.5 | 申请日： | 2023-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN116026263B | 公开（公告）日： | 2023-06-20 |
| 发明（设计）人： | 葛铭;沈井学;魏江;张烩;范靖男 | 申请（专利权）人： | 杭州百子尖科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B15/02 | 分类号： | G01B15/02 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 康欢欢 |
| 地址： | 311121 浙江省杭州市余杭区*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测厚校准方法、装置、设备和存储介质。该测厚校准方法包括：获取测厚仪对校准样片进行扫描得到的扫描数据，其中，所述扫描数据的数量为多个；获取所述校准样片的标准数据；基于所述扫描数据和所述标准数据确定扫描补偿量的标准差；确定所述标准差是否满足第一预设校准规则；若满足第一预设校准规则，基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式。通过采用上述方案，解决了解决现有的测厚仪无法对整机结构磨损松动造成的偏差进行校准的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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