[发明专利]一种宽频谱范围与高光谱分辨的X射线聚焦检测系统在审
| 申请号： | 202310321906.2 | 申请日： | 2023-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN116337902A | 公开（公告）日： | 2023-06-27 |
| 发明（设计）人： | 施军;王峰;江月;杨国洪;韦敏习;杨祖华;肖沙里 | 申请（专利权）人： | 重庆大学;中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01N23/20008 | 分类号： | G01N23/20008;G01N23/207 |
| 代理公司： | 重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 | 代理人： | 黄河 |
| 地址： | 400044 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明公开一种宽频谱范围与高光谱分辨的X射线聚焦检测系统，用于对光源发出的X射线衍射后进行检测，包括衍射晶体以及检测器，所述衍射晶体表面具有衍射面，所述衍射面能够将所述光源发射并辐射至衍射面的X射线全部衍射后被检测器检测；本发明从源头上解决传统平面晶体X射线收集效率低、柱面或锥面晶体X射线谱分辨率低、球面晶体测谱范围窄的技术问题，使其同时具备高谱分辨率、高收集效率、宽测谱范围的特点，从而实现X射线在多个能点的聚焦测谱功能，减弱对整个X射线光谱检测系统中光源放置位置的限制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 宽频 范围 光谱 分辨 射线 聚焦 检测 系统 | ||
【主权项】：
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