[发明专利]调试信号输出系统、PCIE设备、电子设备及方法有效
申请号: | 202310317655.0 | 申请日: | 2023-03-29 |
公开(公告)号: | CN116028291B | 公开(公告)日: | 2023-07-21 |
发明(设计)人: | 崔明志;刘龙斌;叶鹏玉 | 申请(专利权)人: | 北京象帝先计算技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G06F13/40;G06F13/42 |
代理公司: | 北京新知远方知识产权代理事务所(普通合伙) 11397 | 代理人: | 王俊博;易杨 |
地址: | 100029 北京市朝阳区安定*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开涉及PCIE设备调试领域,具体提供一种调试信号输出系统、PCIE设备、电子设备及方法。其中,调试信号输出系统设置在PCIE设备内,调试信号输出系统包括调试能力模块和调试主模块;调试能力模块包括第一寄存器,第一寄存器中的第一预设字段用于表示调试模式的进入和退出;调试主模块包括调试驱动单元、调试监控单元及TLP生成单元;在进入调试模式后,调试驱动单元用于将PCIE主机端发送的激励TLP包中的激励数据输入给PCIE设备的调试点;调试监控单元用于对调试点的输出数据进行采样,并将采样的输出数据传递给TLP生成单元;TLP生成单元用于根据该输出数据生成状态TLP包,并将状态TLP包反馈给PCIE主机端。 | ||
搜索关键词: | 调试 信号 输出 系统 pcie 设备 电子设备 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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