[发明专利]调试信号输出系统、PCIE设备、电子设备及方法

说明书

本公开涉及PCIE设备调试领域，具体提供一种调试信号输出系统、PCIE设备、电子设备及方法。其中，调试信号输出系统设置在PCIE设备内，调试信号输出系统包括调试能力模块和调试主模块；调试能力模块包括第一寄存器，第一寄存器中的第一预设字段用于表示调试模式的进入和退出；调试主模块包括调试驱动单元、调试监控单元及TLP生成单元；在进入调试模式后，调试驱动单元用于将PCIE主机端发送的激励TLP包中的激励数据输入给PCIE设备的调试点；调试监控单元用于对调试点的输出数据进行采样，并将采样的输出数据传递给TLP生成单元；TLP生成单元用于根据该输出数据生成状态TLP包，并将状态TLP包反馈给PCIE主机端。

技术领域

本公开涉及PCIE设备调试领域，尤其涉及一种应用于PCIE设备的调试信号输出系统、PCIE设备、电子设备及方法。

背景技术

PCIE设备通常是指支持PCIE协议的设备，或者以PCIE协议为标准的设备，PCIE设备能够通过PCIE接口与主机端进行连接，并与主机端进行数据交互。在针对PCIE设备进行芯片设计期间，通常需要观测PCIE设备芯片内部的调试信号，通过对调试信息进行分析处理，来检验芯片设计的合理性。

相关技术中，在观测PCIE设备芯片内部的调试信号时，一种观测方式是通过芯片的GPIO引脚采集调试信号，但是这种方式支持的信号频率偏低，通常在200Mhz左右，并且由于引脚数量有限，限制了可观测信号的数量；另一种观测方式是利用芯片内部的寄存器记录调试信息，然后通过软件读取寄存器以获取调试信息，但是这种方式的弊端是软件读取寄存器滞后，无法实时观测，灵活性较差。

发明内容

本公开的目的是提供一种应用于PCIE设备的调试信号输出系统、PCIE设备、电子设备及方法，旨在提升调试信号的观测灵活性，实现调试信号的实时观测。

根据本公开的一个方面，提供一种应用于PCIE设备的调试信号输出系统，该调试信号输出系统设置在PCIE设备内，该调试信号输出系统包括调试能力模块和调试主模块；调试能力模块包括第一寄存器，第一寄存器中的第一预设字段用于表示调试模式的进入和退出，调试主模块包括调试驱动单元、调试监控单元及TLP生成单元；

第一寄存器，用于接收PCIE主机端对第一预设字段的配置；

调试驱动单元，用于在进入调试模式后将PCIE主机端发送的激励TLP包中的激励数据输入给PCIE设备的调试点，并置位调试监控单元的触发寄存器；

调试监控单元，用于在监控到触发寄存器被置位后，对调试点的输出数据进行采样，并将采样的输出数据传递给TLP生成单元；

TLP生成单元，用于根据该输出数据生成状态TLP包，并将状态TLP包反馈给PCIE主机端。

本公开一种可行的实现方式中，激励TLP包中还包括预设延迟值；

调试监控单元，还用于在监控到触发寄存器被置位后，基于采样时钟开始计数；

调试监控单元，具体用于判断计数累计值是否达到预设延迟值，在计数累计值达到预设延迟值的情况下，基于采样时钟对调试点的输出数据进行采样。

本公开一种可行的实现方式中，第一寄存器中的第二预设字段用于表示采样时钟对应的分频系数；

第一寄存器，还用于接收PCIE主机端对第二预设字段的配置。

本公开一种可行的实现方式中，调试能力模块还包括第二寄存器，第二寄存器中的第三预设字段用于表示是否允许进入调试模式；

第二寄存器，用于接收PCIE主机端对第三预设字段的配置。

本公开一种可行的实现方式中，调试能力模块还包括第三寄存器，第三寄存器中的第四预设字段用于表征PCIE设备是否支持调试功能；