[发明专利]调试信号输出系统、PCIE设备、电子设备及方法

权利要求书

1.一种应用于PCIE设备的调试信号输出系统，所述调试信号输出系统设置在所述PCIE设备内，所述调试信号输出系统包括调试能力模块和调试主模块；所述调试能力模块包括第一寄存器，所述第一寄存器中的第一预设字段用于表示调试模式的进入和退出；所述调试主模块包括调试驱动单元、调试监控单元及TLP生成单元；

所述第一寄存器，用于接收PCIE主机端对所述第一预设字段的配置；

所述调试驱动单元，用于在进入所述调试模式后，将所述PCIE主机端发送的激励TLP包中的激励数据输入给所述PCIE设备的调试点，并置位所述调试监控单元的触发寄存器；

所述调试监控单元，用于在监控到所述触发寄存器被置位后，对所述调试点的输出数据进行采样，并将采样的输出数据传递给所述TLP生成单元；

所述TLP生成单元，用于根据所述输出数据生成状态TLP包，并将所述状态TLP包反馈给所述PCIE主机端。

2.根据权利要求1所述的调试信号输出系统，所述激励TLP包中还包括预设延迟值；

所述调试监控单元，还用于在监控到所述触发寄存器被置位后，基于采样时钟开始计数；

所述调试监控单元，具体用于判断计数累计值是否达到所述预设延迟值，在所述计数累计值达到所述预设延迟值的情况下，基于所述采样时钟对所述调试点的输出数据进行采样。

3.根据权利要求2所述的调试信号输出系统，所述第一寄存器中的第二预设字段用于表示所述采样时钟对应的分频系数；

所述第一寄存器，还用于接收所述PCIE主机端对所述第二预设字段的配置。

4.根据权利要求1所述的调试信号输出系统，所述调试能力模块还包括第二寄存器，所述第二寄存器中的第三预设字段用于表示是否允许进入调试模式；

所述第二寄存器，用于接收所述PCIE主机端对所述第三预设字段的配置。

5.根据权利要求1所述的调试信号输出系统，所述调试能力模块还包括第三寄存器，所述第三寄存器中的第四预设字段用于表征所述PCIE设备是否支持调试功能；

所述第三寄存器，用于接收所述PCIE主机端对所述第四预设字段的读取。

6.根据权利要求1所述的调试信号输出系统，所述调试主模块的数量为多个，所述调试信号输出系统还包括TLP包分配模块；

所述TLP包分配模块，用于接收所述PCIE主机端发送的激励TLP包，并根据所述激励TLP包中包括的调试ID，将所述激励TLP包或所述激励TLP包中的激励数据分配给所述调试ID对应的调试主模块。

7.根据权利要求6所述的调试信号输出系统，

所述TLP生成单元，还用于在将状态TLP包反馈给所述PCIE主机端之前将自身所属的调试主模块对应的调试ID填充至所述状态TLP包。

8.根据权利要求6所述的调试信号输出系统，所述激励TLP包和所述状态TLP包中均包括包类型信息，所述包类型信息用于表示该包类型信息所属的TLP包是与调试相关的TLP包。

9.一种PCIE设备，包括权利要求1至8任一项所述的调试信号输出系统。

10.一种电子设备，包括权利要求9所述的PCIE设备。