[发明专利]电路板测试方法、系统、装置、电子设备、存储介质在审
| 申请号： | 202310250811.6 | 申请日： | 2023-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN116165518A | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 聂荣刚;邵勇锋;黄亮;陈燕峰 | 申请（专利权）人： | 艾富瑞（苏州）测试科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 洪铭福 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市苏州工业*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电路板测试方法、系统、装置、电子设备、存储介质，本发明涉及电路板测试领域。电路板测试方法包括：获取待测器件的待测器件数据，根据待测电路板的目标故障类型从预设的故障信息数据库获取目标故障数据。将目标故障数据的故障标签与待测标签进行比较，根据比较结果将待测器件作为目标器件。根据目标坐标控制测试探针移动至待测电路板的目标位置，以使测试探针与目标器件电连接，并获取目标器件的实际参数。最后，将实际参数与对应目标器件的器件预设参数进行比较，得到测试结果。本实施例的电路板测试方法能够根据待测电路板的故障类型，针对性地控制测试探针对目标器件进行测试，以此提高了电路板的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 电路板 测试 方法 系统 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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