[发明专利]电路板测试方法、系统、装置、电子设备、存储介质

说明书

本发明公开了一种电路板测试方法、系统、装置、电子设备、存储介质，本发明涉及电路板测试领域。电路板测试方法包括：获取待测器件的待测器件数据，根据待测电路板的目标故障类型从预设的故障信息数据库获取目标故障数据。将目标故障数据的故障标签与待测标签进行比较，根据比较结果将待测器件作为目标器件。根据目标坐标控制测试探针移动至待测电路板的目标位置，以使测试探针与目标器件电连接，并获取目标器件的实际参数。最后，将实际参数与对应目标器件的器件预设参数进行比较，得到测试结果。本实施例的电路板测试方法能够根据待测电路板的故障类型，针对性地控制测试探针对目标器件进行测试，以此提高了电路板的测试效率。

技术领域

本发明涉及电路板测试领域，尤其是涉及一种电路板测试方法、系统、装置、电子设备、存储介质。

背景技术

相关技术中，电路板出现故障时，需要对电路板上元器件的功能是否正常进行测试。然而，当电路板出现严重故障时，电路板上需要测试的元器件过多，从而降低了电路板的测试效率。因此，如何提高电路板的测试效率成了亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种电路板测试方法，能够提高电路板的测试效率。

本发明还提出一种运用上述电路板测试方法的电路板测试系统，和一种电路板测试装置、一种应用上述电路板测试方法的电子设备以及一种应用上述电路板测试方法的计算机可读存储介质。

根据本发明的第一方面实施例的电路板测试方法，用于对待测电路板进行测试操作，所述待测电路板包括待测器件，所述方法包括：

获取所述待测器件的待测器件数据；其中，所述待测器件数据包括待测标签、待测坐标、器件预设参数；

根据所述待测电路板的目标故障类型从预设的故障信息数据库获取目标故障数据；其中，所述目标故障数据包括故障标签；

将所述故障标签与所述待测标签进行比较，根据比较结果将所述待测器件作为目标器件；其中，将所述目标器件的待测坐标作为目标坐标，将所述目标器件的器件预设参数作为目标参数；

根据所述目标坐标控制测试探针移动至所述待测电路板的目标位置，以使所述测试探针与所述目标器件电连接，并获取所述目标器件的实际参数；

将所述实际参数与所述目标参数进行比较，得到测试结果。

根据本发明实施例的电路板测试方法，至少具有如下有益效果：首先获取待测器件的待测器件数据，根据待测电路板的目标故障类型从预设的故障信息数据库获取目标故障数据。其次，将目标故障数据的故障标签与待测标签进行比较，根据比较结果将待测器件作为目标器件。根据目标坐标控制测试探针移动至待测电路板的目标位置，以使测试探针与目标器件电连接，并获取目标器件的实际参数。最后，将实际参数与对应目标器件的目标参数进行比较，得到测试结果。本实施例的电路板测试方法能够根据待测电路板的故障类型，针对性地控制测试探针对目标器件进行测试，以此提高了电路板的测试效率。

根据本发明的一些实施例，所述待测器件数据还包括器件测试类型；所述根据所述目标坐标控制测试探针移动至所述待测电路板的目标位置，以使所述测试探针与所述目标器件电连接，并获取所述目标器件的实际参数，包括：

根据所述目标坐标控制所述测试探针移动至所述待测电路板的目标位置，以使所述测试探针与所述目标器件电连接；

根据所述目标器件的器件测试类型对所述目标器件进行测试，以获取所述实际参数。

根据本发明的一些实施例，所述根据所述目标器件的器件测试类型对所述目标器件进行测试，以获取所述实际参数，包括：

若所述器件测试类型为预设的静态测试类型，对所述目标器件进行开短路测试，得到静态参数，并将所述静态参数作为所述实际参数；