[发明专利]写入均衡检测器、写入均衡检测电路及存储器在审
| 申请号： | 202310231864.3 | 申请日： | 2023-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN116524972A | 公开（公告）日： | 2023-08-01 |
| 发明（设计）人： | 郑龙权 | 申请（专利权）人： | 东芯半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C7/22 | 分类号： | G11C7/22 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 宋俊寅;张鑫 |
| 地址： | 201799 上海市青浦区徐泾*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种写入均衡检测器、写入均衡检测电路及存储器，其通过将恢复逻辑函数(相当于MCK_R1和MCK_F1的异或函数XOR)实现到写入均衡检测器的触发器NMOS分支中，并使用半频时钟信号(MCK_R1和MCK_F1)作为其输入，从而不需要另行设置时钟恢复电路就能得到时钟(CK)信号相对于DQS信号的时序偏差信息，能够避免因时钟恢复电路而导致的最大动作频率的限制以及额外的相位误差。 | ||
| 搜索关键词： | 写入 均衡 检测器 检测 电路 存储器 | ||
【主权项】：
暂无信息
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