[发明专利]一种非均质组织中病灶深度定位方法在审

专利信息
申请号: 202310179305.2 申请日: 2023-02-27
公开(公告)号: CN116337841A 公开(公告)日: 2023-06-27
发明(设计)人: 叶坚;张玉敏;林俐 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65
代理公司: 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 代理人: 郑立
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种非均质组织中病灶深度定位方法,涉及病灶检测领域,包括以下步骤:步骤1、制备表面增强拉曼散射探针纳米颗粒;步骤2、制备表面增强拉曼散射探针造影剂,将所述表面增强拉曼散射探针造影剂超声分散;测量并记录所述表面增强拉曼散射探针造影剂的拉曼光谱;步骤3、将待测生物样品放置于载物台上,并将所述表面增强拉曼散射探针造影剂注入所述生物样品中,进行拉曼检测;步骤4、对检测得到的拉曼光谱进行分析,构建超定方程组并求解,算出各种均质组织的各自厚度,相加获得病灶深度。该方法能够检测非均质组织中的深层肿瘤并准确判断病灶深度,使其具有采集方便、无需三维重构、实时快捷、特异性好等优势。
搜索关键词: 一种 非均质 组织 病灶 深度 定位 方法
【主权项】:
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