[发明专利]基于反射光谱吸收深度测定月壤中单质金属铁含量的方法在审

专利信息
申请号: 202310122919.7 申请日: 2023-02-16
公开(公告)号: CN116202996A 公开(公告)日: 2023-06-02
发明(设计)人: 彭艳华;唐红;夏志鹏;曾小家;陈国柱;莫冰;王茜 申请(专利权)人: 桂林理工大学;中国科学院地球化学研究所;南宁理工学院
主分类号: G01N21/55 分类号: G01N21/55;G01N21/31;G01N21/3563;G01N21/3581;G01N1/44;G01N21/73
代理公司: 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 代理人: 郭萍
地址: 541006 广西壮*** 国省代码: 广西;45
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摘要: 发明提供了一种基于反射光谱吸收深度测定月壤中单质金属铁含量的方法,包括以下步骤:(1)制备一系列单质金属铁含量不同的模拟月壤样品作为标准样品;(2)采集各标准样品的反射光谱,计算各标准样品的反射光谱在2000nm波长处的吸收带的吸收深度;(3)以样品中单质金属铁含量为纵坐标,以所述吸收深度为横坐标,拟合得到样品中单质金属铁含量与所述吸收深度之间的换算关系式;(4)采集月壤样品的反射光谱,计算月壤样品的反射光谱在2000nm波长处吸收带的吸收深度,然后由样品中单质金属铁含量与所述吸收深度之间的换算关系式计算出月壤样品中的单质金属铁含量。本发明可实现月壤中单质金属铁含量的无损、简单、高效和低成本测定。
搜索关键词: 基于 反射 光谱 吸收 深度 测定 月壤中 单质 金属 含量 方法
【主权项】:
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