[发明专利]一种针对小子样的长寿命二浮陀螺快速寿命试验方法有效
| 申请号： | 202310079257.X | 申请日： | 2023-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN115859687B | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 闫亚超;尚俊云;王建青;党建军;张培新;付荣荣;陈恩茂;张海雄;刘郭建;柳凯 | 申请（专利权）人： | 西安航天精密机电研究所 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G01C25/00;G06F119/02;G06F119/04 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 王少文 |
| 地址： | 710100 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及二浮陀螺寿命试验方法，具体涉及一种针对小子样的长寿命二浮陀螺快速寿命试验方法，用于解决对于小子样且寿命要求极高的二浮陀螺，采用Weibull分布模型进行试验会因子样数量不足而无法进行试验，采用1:1的寿命试验方式会造成试验成本及周期剧增的不足之处。该针对小子样的长寿命二浮陀螺快速寿命试验方法通过建立二浮陀螺的可靠性模型假定二浮陀螺最低平均失效前时间和总启停次数，并展开MTTF（平均失效前时间）试验和启停试验；本发明能够实现对二浮陀螺产品进行快速的寿命试验验证，在保证产品要求可靠性指标的前提下，极大的压缩了产品试验周期，节约了试验成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 小子 寿命 陀螺 快速 试验 方法 | ||
【主权项】：
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