[发明专利]一种针对小子样的长寿命二浮陀螺快速寿命试验方法

权利要求书

1.一种针对小子样的长寿命二浮陀螺快速寿命试验方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1、建立二浮陀螺的可靠性模型；

步骤1.1、根据二浮陀螺单通道的二浮陀螺寿命可靠度和电路寿命可靠度计算二浮陀螺可靠度 ；

步骤1.2、建立二浮陀螺的可靠性模型如下：

，

式中，为任务时间；为形状参数1；为特征参数1；为任务启停次数；为形状参数2；为特征参数2；

步骤2、确定二浮陀螺MTTF指标和总启停次数；

根据预设任务时间、任务启停次数，确定任务时间、任务启停次数；根据Weibull分布可靠性计算模型，查表得到、；根据二浮陀螺的可靠度，计算二浮陀螺实际可靠度，使得，获得、，定义二浮陀螺MTTF指标，总启停次数=，；

步骤3、MTTF试验；

根据二浮陀螺MTTF指标及置信度为0.7计算总试验时间；确定二浮陀螺MTTF试验样本数量，计算平均单个二浮陀螺MTTF试验样本寿命跑合时间；每出现1个二浮陀螺MTTF试验样本失效，令减1，重新计算试验总试验时间，并根据剩余二浮陀螺MTTF试验样本数量，重新计算剩余二浮陀螺MTTF试验样本中平均单个二浮陀螺MTTF试验样本寿命跑合时间；

步骤4、启停试验；

根据如下启停试验模型计算得到特征寿命：

，

式中：为启停可靠度；为任务启停次数；为特征寿命；为形状参数3；

设定每个二浮陀螺启停试验样本启停次数A次，且无失效，则根据，得到二浮陀螺启停试验样本数最小值；式中，为最大似然约数计算公式的参数，取0.5。

2.根据权利要求1所述的一种针对小子样的长寿命二浮陀螺快速寿命试验方法，其特征在于：步骤1.1中，所述计算二浮陀螺可靠度具体为：

二浮陀螺单通道由二浮陀螺和电路组成；所述电路由陀螺线路以及二次电源组成，则二浮陀螺单通道寿命可靠度为：

，

式中： 为置信度0.7的二浮陀螺单通道15年可靠度； 为置信度0.7的电路15年可靠度。

3.根据权利要求2所述的一种针对小子样的长寿命二浮陀螺快速寿命试验方法，其特征在于：步骤3中，所述根据二浮陀螺MTTF指标及置信度为0.7计算总试验时间具体为：

，

式中： 为置信度为0.7时的计算因子， 为二浮陀螺MTTF试验样本的失效数量。

4.根据权利要求3所述的一种针对小子样的长寿命二浮陀螺快速寿命试验方法，其特征在于，所述步骤3具体为：

步骤3.1、根据二浮陀螺MTTF指标及置信度为0.7计算总试验时间；

步骤3.2、根据二浮陀螺MTTF试验样本数量 ，按照下式计算平均单个二浮陀螺MTTF试验样本寿命跑合时间：

，

式中： 为第个二浮陀螺试验样本的工作时间， ；

步骤3.3、若MTTF试验中出现1个二浮陀螺MTTF试验样本失效，则令加1， 减1，然后返回步骤3.1。

5.根据权利要求4所述的一种针对小子样的长寿命二浮陀螺快速寿命试验方法，其特征在于：步骤4中，所述特征寿命计算过程如下：

按Weibull分布计算，特征寿命。

6.根据权利要求5所述的一种针对小子样的长寿命二浮陀螺快速寿命试验方法，其特征在于：步骤4中，所述A取20000，则最小值为5。

7.根据权利要求1至6任一所述的一种针对小子样的长寿命二浮陀螺快速寿命试验方法，其特征在于：所述步骤3、步骤4中存在下列任一情况下不计入失效数量，二浮陀螺试验样本修复后可继续进行试验，中断前试验时间可计入总试验时间内，或中断前启停次数可计入总启停次数内：

a. 误操作引起的陀螺故障；

b. 测试设备引起的陀螺故障；

c. 试验装置引起的陀螺故障；

d. 陀螺外部接插件及引线故障引起的陀螺故障；

e. 超出陀螺工作极限的环境条件和工作条件引起的故障。