[发明专利]一种测试座有效
| 申请号： | 202310048700.7 | 申请日： | 2023-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN116027076B | 公开（公告）日： | 2023-06-30 |
| 发明（设计）人： | 朱月月;陆建华;王宸星;陈喜凤;李佳雨 | 申请（专利权）人： | 上海安其威微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/312;G01R31/303 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 王金双 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种测试座，包括，测试座主体、芯片导向框、探针固定板、以及介质层，其中，所述芯片导向框，位于所述测试座主体的中间位置，用于放置待测芯片；所述探针固定板，位于所述测试座主体的下部，用于固定探针；所述探针固定板上，设置有与所述待测芯片的高频信号引脚相对应的缺口；所述介质层，位于所述缺口中。本发明通过介质层形成的耦合电容实现射频信号传输，可以明显的减少因探针接触不良导致的测试数据偏差；经过测试的芯片的高频信号引脚上不会留下扎痕，对高频信号引脚的焊接不会造成影响，从而减小芯片使用时的风险；介质层不需要更换，可以较大程度的节约成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 | ||
【主权项】：
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