[发明专利]一种测试座有效
| 申请号： | 202310048700.7 | 申请日： | 2023-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN116027076B | 公开（公告）日： | 2023-06-30 |
| 发明（设计）人： | 朱月月;陆建华;王宸星;陈喜凤;李佳雨 | 申请（专利权）人： | 上海安其威微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/312;G01R31/303 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 王金双 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测试 | ||
【权利要求书】：
1.一种测试座，其特征在于，包括，测试座主体、芯片导向框、探针固定板、以及介质层，其中，
所述芯片导向框，位于所述测试座主体的中间位置，用于放置待测芯片；
所述探针固定板，位于所述测试座主体的下部，用于固定探针；
所述探针固定板上，设置有与所述待测芯片的高频信号引脚相对应的缺口；
所述介质层，位于所述缺口中；
所述缺口为一个或多个，每一所述待测芯片的高频信号引脚均与所述缺口具有相对部分；
所述缺口与所述高频信号引脚正相对或具有错开部分；
所述介质层，在待测芯片的高频信号引脚与PCB板的焊盘之间形成平板电容；
所述探针固定板上还设有位于直流信号测试区域的直流探针；位于控制信号输入区域的控制探针；
所述探针采用弹簧针、异形针或者导电纸中的一种。
2.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，所述介质层与所述探针固定板采用相同或不同的材料。
3.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，所述介质层的材料选自氧化硅、氮化硅、氮氧化硅、碳化硅、碳氮化硅、碳氮氧化硅、氮化硼和碳氮化硼中的一种或它们的任意组合。
4.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，所述介质层的周边与所述缺口贴合。
5.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，所述介质层的厚度与所述探针固定板的厚度相同。
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