[发明专利]一种轨道表面缺陷检测方法及系统在审

专利信息
申请号: 202310032858.5 申请日: 2023-01-10
公开(公告)号: CN115855825A 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 杨凯;梁斌;高春良;谢利明 申请(专利权)人: 成都盛锴科技有限公司
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/95;B61K9/10
代理公司: 成都市集智汇华知识产权代理事务所(普通合伙) 51237 代理人: 李华
地址: 610091 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明属于轨道缺陷检测技术领域,尤其公开了一种轨道表面缺陷检测方法及系统,该系统包括:行走单元,用于承载所述检测系统并驱动检测系统在轨道上运动;检测单元,用于采集轨道表面图像,所述轨道表面图像包括2D和3D图像;触发单元,用于触发检测单元采集轨道表面图像;定位单元,用于行走单元行驶里程计算并实时记录检测单元采集图像时的位置信息;数据处理单元,用于对检测单元采集的图像进行判定。本发明通过2D图像对缺陷进行初步筛选后再利用3D图像进行进一步判断,在不影响判断精度的前提下大大提高了判断效率,减小了系统开销。
搜索关键词: 一种 轨道 表面 缺陷 检测 方法 系统
【主权项】:
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