[发明专利]电极涂层尺寸测量方法和装置在审
| 申请号： | 202310029262.X | 申请日： | 2023-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN116222381A | 公开（公告）日： | 2023-06-06 |
| 发明（设计）人： | 沈飞;姜文晖;占锟 | 申请（专利权）人： | 盛景智能科技（嘉兴）有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01C9/00;G06T7/00;G06T7/60 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 赵娜 |
| 地址： | 314506 浙江省嘉兴市桐乡*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供一种电极涂层尺寸测量方法和装置，属于图像测量技术领域，方法包括：计算电极涂层图像中每个像素的梯度信息，得到所述电极涂层图像的方向梯度直方图；根据所述方向梯度直方图，确定所述电极涂层图像中电极涂层侧边对应的梯度方向和倾斜角度；根据所述梯度方向和所述倾斜角度，计算得到所述电极涂层的尺寸。本发明提供的电极涂层尺寸测量方法和系统，通过方向梯度直方图可以更快速准确地获取电极涂层的两侧边缘的倾斜角度，以便提高电极涂层尺寸的精确测量值，提高了生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 电极 涂层 尺寸 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
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