[发明专利]电极涂层尺寸测量方法和装置在审

专利信息
申请号: 202310029262.X 申请日: 2023-01-09
公开(公告)号: CN116222381A 公开(公告)日: 2023-06-06
发明(设计)人: 沈飞;姜文晖;占锟 申请(专利权)人: 盛景智能科技(嘉兴)有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01C9/00;G06T7/00;G06T7/60
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 赵娜
地址: 314506 浙江省嘉兴市桐乡*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 电极 涂层 尺寸 测量方法 装置
【说明书】:

发明提供一种电极涂层尺寸测量方法和装置,属于图像测量技术领域,方法包括:计算电极涂层图像中每个像素的梯度信息,得到所述电极涂层图像的方向梯度直方图;根据所述方向梯度直方图,确定所述电极涂层图像中电极涂层侧边对应的梯度方向和倾斜角度;根据所述梯度方向和所述倾斜角度,计算得到所述电极涂层的尺寸。本发明提供的电极涂层尺寸测量方法和系统,通过方向梯度直方图可以更快速准确地获取电极涂层的两侧边缘的倾斜角度,以便提高电极涂层尺寸的精确测量值,提高了生产效率。

技术领域

本发明涉及图像测量技术领域,尤其涉及一种电极涂层尺寸测量方法和系统。

背景技术

随着近年人工智能相关软硬件和相关技术的飞速发展,其在工业场景中的深度应用,可以极大地节省人力物力,并且全机械化生产可以在一定程度上保证产品质量的稳定。在锂电池的生产工艺中,电极涂层是及其重要的一步,其主要步骤是将电极材料与导电粘合剂混合形成的浆液均匀涂布到导电金属箔的表面。在这一步骤中,由于浆液的浓度变化和环境影响,可能导致涂布时产生工艺瑕疵,而传统人工质检,尤其是尺寸测量,存在速度慢、精度低的问题,极大的限制了生产效率。

发明内容

本发明提供一种电极涂层尺寸测量方法和系统,用以解决现有技术中人工尺寸测量,存在速度慢、精度低的问题,极大的限制了生产效率的缺陷。

本发明提供一种电极涂层尺寸测量方法,包括:

计算电极涂层图像中每个像素的梯度信息,得到所述电极涂层图像的方向梯度直方图;

根据所述方向梯度直方图,确定所述电极涂层图像中电极涂层侧边对应的梯度方向和倾斜角度;

根据所述梯度方向和所述倾斜角度,计算得到所述电极涂层的尺寸。

根据本发明提供的一种电极涂层尺寸测量方法,所述根据所述梯度方向和所述倾斜角度,计算得到所述电极涂层的尺寸,包括:

根据所述梯度方向和所述倾斜角度,对所述电极涂层图像进行采样,根据采样得到的多行像素得到像素向量;

计算所述像素向量中每个向量元素的梯度值,以根据所述梯度值得到梯度向量;

利用所述梯度向量,对所述电极涂层对粗定位;

根据所述粗定位的定位结果,确定所述电极涂层两个侧边的边缘过渡带;

对所述边缘过渡带进行梯度计算,将所述边缘过渡带中梯度最大的位置记为所述电极涂层两个侧边的边缘位置;

根据两个所述边缘位置之间的宽度尺寸,得到所述电极涂层的宽度尺寸。

根据本发明提供的一种电极涂层尺寸测量方法,所述根据所述梯度方向和所述倾斜角度,对所述电极涂层图像进行采样,根据采样得到的多行像素得到像素向量,包括:

计算所述电极涂层两个侧边对应的所述倾斜角度的平均角度;

沿着所述梯度方向旋转所述平均角度的方向,对所述电极涂层图像进行等距采样,得到多行像素;

根据每一行像素得到一个所述像素向量。

根据本发明提供的一种电极涂层尺寸测量方法,所述根据所述边缘过渡带,得到所述电极涂层的边缘位置,包括:

对所述边缘过渡带进行超像素处理,得到亚像素级边缘过渡带;

计算所述亚像素级边缘过渡带的梯度信息,将梯度最大位置记为所述电极涂层的边缘位置。

根据本发明提供的一种电极涂层尺寸测量方法,还包括:

基于金字塔迭代算法计算所述像素向量中每个向量元素的梯度值设定次数以得到符合预设精度的所述边缘位置。

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