[发明专利]一种芯片失效的筛选方法及装置在审
| 申请号： | 202310024410.9 | 申请日： | 2023-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN116027174A | 公开（公告）日： | 2023-04-28 |
| 发明（设计）人： | 刘乐 | 申请（专利权）人： | 普冉半导体（上海）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R19/165;G01R31/00;G01R31/01 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人： | 童素珠 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新区中国（上海）自*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片失效的筛选方法及装置，方法包括：在预设温度下对目标芯片施加读取电压，并获取所述目标芯片在所述读取电压下的读出电流值，所述读取电压位于所述目标芯片的工作电压范围内；将所述目标芯片的默认参考电流值调整为预设参考电流值，所述预设参考电流值大于所述默认参考电流值；将所述读出电流值与所述预设参考电流值进行比较；当所述读出电流值不小于所述预设参考电流值时，将所述目标芯片确定为优品；当所述读出电流值小于所述预设参考电流值时，将所述目标芯片确定为非优品。本发明在低压高温的测试环境下，通过增加参考电流的方式，筛选出高温异常芯片，有效地保证了产品的品质。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 失效 筛选 方法 装置 | ||
【主权项】：
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